Kể từ khi Samsung Galaxy Note 7 quá cố bị rút khỏi bán, không thiếu lý thuyết - cả hợp pháp và đáng ngờ - về chính xác điều gì đã khiến pin điện thoại bùng nổ. Samsung ban đầu đổ lỗi cho một vấn đề về pin trong các tế bào từ một nhà cung cấp, tuy nhiên việc thu hồi lần thứ hai và hủy bỏ điện thoại sau đó dường như sẽ giảm giá điều đó.
Bây giờ một báo cáo từ công ty kỹ thuật Cụ tuyên bố đã giải quyết được bí ẩn. Nguyên nhân của sự cố pin Note 7 thảm khốc, CEO của hãng cho biết, về cơ bản phải làm với pin quá lớn. Trong báo cáo của mình, Anna Shedletsky kết luận rằng không có đủ không gian xung quanh pin để cho phép dung sai sản xuất khác nhau và sự giãn nở nhẹ của pin thông qua việc sử dụng.
Điều thú vị là có bằng chứng trong việc thiết kế một sự căng thẳng trí tuệ giữa an toàn và đẩy ranh giới. Các kỹ sư của Samsung đã thiết kế tất cả các lề trong độ dày của pin, đó là hướng mà bạn có được mức tăng công suất nhất cho mỗi đơn vị âm lượng. Tuy nhiên, pin cũng nằm trong một túi được gia công CNC - một lựa chọn tốn kém có thể được thực hiện để bảo vệ nó khỏi bị chọc bởi các thành phần bên trong khác. Nhìn vào thiết kế, các kỹ sư của Samsung rõ ràng đang cố gắng cân bằng rủi ro của quy trình sản xuất siêu tích cực để tối đa hóa công suất, đồng thời cố gắng bảo vệ nội bộ.
Hình ảnh độ phân giải cao được đăng bởi Cụ hiển thị nhỏ hơn 0, 1mm giữa "túi gia công" đó và đỉnh pin. Các kích thước khác cũng bị hạn chế tương tự.
Mặc dù tất cả chỉ dựa trên kích thước mẫu của một mẫu, nhưng báo cáo đầy đủ của Cụ rất đáng để đọc nếu bạn hoàn toàn thích cách điện thoại thông minh hiện đại kết hợp với nhau và những thách thức liên quan đến việc nhồi nhét thêm công nghệ vào không gian nhỏ hơn. Thật thú vị, Shedletsky nói rằng ngay cả khi Note 7 không bị hỏng sớm, sự thiếu hụt không gian xung quanh pin cuối cùng sẽ khiến điện thoại bị vỡ do sưng pin.
Một điều chắc chắn: Với một chiếc flagship mới của Samsung dự kiến vào đầu năm tới, công ty Hàn Quốc chắc chắn sẽ chú ý hơn đến dung sai kỹ thuật và kích thước pin.
